常(chang)用無損(sun)檢測技術(shu)的(de)分類(lei)、應用及優缺點
目前(qian)實際應用中有(you)(you)很多種無損(sun)檢測技(ji)術,除了射(she)線、超聲、磁(ci)粉、滲透(tou)、渦(wo)流這五大(da)常規無損(sun)檢測之(zhi)外(wai),還有(you)(you)微(wei)波(bo)、聲發(fa)射(she)、激光、紅外(wai)等等,下(xia)面(mian)為大(da)家介紹(shao)的是(shi)幾種常用的無損(sun)檢測技(ji)術的用途、優缺點。
分類 | 用途(tu) | 優點 | 缺(que)點 |
超聲檢測 | 檢(jian)測鍛件的裂(lie)紋、分(fen)(fen)層、夾雜(za),焊縫中的裂(lie)紋、氣(qi)孔、夾渣、未焊透等等;型材的裂(lie)紋、分(fen)(fen)層、夾雜(za)、折疊;鑄件的縮孔、氣(qi)泡(pao)、熱裂(lie)、冷裂(lie)、及厚度測量。 | 對平面型缺陷十(shi)分敏感,易于攜帶,穿透(tou)力強。 | 需有良(liang)好的聲耦合,被檢(jian)測(ce)物件表面需光(guang)滑;難(nan)以探測(ce)細小裂紋和微細氣孔(kong);對檢(jian)測(ce)人員(yuan)要求(qiu)高;不適合形狀(zhuang)復雜和表面粗糙工件。 |
射線檢測 | 檢(jian)測焊(han)縫未焊(han)透、氣孔(kong)、夾渣(zha),鑄件的縮孔(kong)、氣孔(kong)、疏松、熱裂,確定缺(que)陷的位置、大小(xiao)及種(zhong)類。 | 功率可調,照相質量高,可永(yong)久記錄。 | 設(she)備(bei)昂貴(gui),不易攜帶;有放(fang)射危險(xian);對檢測人員素質要求高;較難(nan)發(fa)現焊縫裂(lie)紋和(he)未熔合(he)缺陷(xian);不適合(he)鍛(duan)件和(he)型(xing)材。 |
磁粉檢測(ce) | 檢(jian)測鐵磁性材料和工件表面(mian)或近表面(mian)的裂紋、折疊、夾層(ceng)、夾渣等,確定缺陷的位(wei)置(zhi)、大小和形(xing)狀。 | 簡單、操(cao)作方便,速度快,靈敏度高。 | 只限鐵磁材料;探傷前需清潔工(gong)件;某些情況難以確定缺陷深度。 |
滲透檢測(ce) | 檢(jian)測金屬和非(fei)金屬材(cai)料表面裂紋、折疊、疏松、針孔等缺陷,確定缺陷位置、大(da)小(xiao)和形狀。 | 所有材料均適用;設備簡(jian)單價格(ge)較低;探傷簡(jian)單,結果易于解釋(shi)。 | 探傷前后必須清(qing)潔工(gong)件;難以確定缺陷的(de)深(shen)度;不(bu)適用疏松的(de)多孔(kong)材(cai)料;孔(kong)隙表面的(de)漏(lou)洞(dong)容(rong)易引起假象顯示。 |
渦流檢測 | 檢測導(dao)電材料表(biao)面(mian)(mian)和近表(biao)面(mian)(mian)的裂紋(wen)、夾雜、折疊、凹坑、疏松(song)等缺陷,確定缺陷位置和相對尺(chi)寸。 | 簡單,經(jing)濟,不需耦合,探(tan)頭(tou)無(wu)需接觸(chu)工件(jian)。 | 只限導體材(cai)料(liao),穿透(tou)淺,要有參考標準,難以判斷缺陷種類。 |
光纖檢測 | 檢測鍋爐(lu)、泵體、鑄(zhu)件、炮(pao)筒(tong)、壓力容(rong)器、管道內表面的缺陷及(ji)焊件及(ji)焊縫質量(liang)和疲(pi)勞裂紋。 | 靈敏(min)度高、絕緣好,抗腐蝕(shi),不受(shou)電磁干擾(rao)。 | 價格(ge)較高,不能檢(jian)測(ce)結構內部缺陷。 |
聲發射檢測 | 檢測構件的動態裂紋(wen)(wen)、裂紋(wen)(wen)萌生(sheng)、裂紋(wen)(wen)生(sheng)長(chang)率(lv)。 | 實時連(lian)續監控探測,可以遙控,裝置較輕便。 | 傳感器與工件(jian)耦(ou)合(he)需良(liang)好;工件(jian)需處于應力狀態;延性(xing)材(cai)料產生低幅值聲(sheng)發(fa)射,噪(zao)聲(sheng)不能進(jin)入探測系(xi)統;設(she)備(bei)昂貴,人員素質(zhi)要求(qiu)高。 |
微波(bo)檢測 | 檢測(ce)復合材料、非金(jin)屬制品、輪胎等(deng);可測(ce)量(liang)厚(hou)度(du)(du)、密度(du)(du)、濕(shi)度(du)(du)等(deng)物理參數。 | 非接觸式檢測,檢測速度快,可(ke)實現自動化。 | 不能檢(jian)測(ce)金屬導體內部缺陷(xian),一般(ban)不適用于(yu)(yu)檢(jian)測(ce)小(xiao)于(yu)(yu)1mm的(de)缺陷(xian),空間分辨率低。 |
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