無(wu)損探傷問題集(ji)
物(wu)理探(tan)傷就是(shi)不產生化學(xue)變化的(de)情況下進行無損(sun)探(tan)傷。
一、什(shen)么是(shi)無損探傷?
答:無損探傷是在不損壞工件或(huo)原材料工作(zuo)狀態的(de)前提下,對被檢(jian)驗部件的(de)表面和內部質(zhi)量進行檢(jian)查的(de)一種測試手段(duan)。
二(er)、常用的探(tan)傷(shang)方法有哪些(xie)?
答:常用的無(wu)損(sun)探(tan)(tan)傷(shang)方(fang)法有:X光(guang)射線探(tan)(tan)傷(shang)、超聲波探(tan)(tan)傷(shang)、磁(ci)粉探(tan)(tan)傷(shang)、滲(shen)透(tou)探(tan)(tan)傷(shang)、渦流(liu)探(tan)(tan)傷(shang)、γ射線探(tan)(tan)傷(shang)、螢光(guang)探(tan)(tan)傷(shang)、著色探(tan)(tan)傷(shang)等(deng)方(fang)法。
三、試(shi)述(shu)磁粉(fen)探傷的原理?
答:它的基本原理是(shi):當工件(jian)磁(ci)(ci)化(hua)時,若工件(jian)表(biao)面(mian)有缺(que)陷存(cun)(cun)在(zai)(zai),由于(yu)缺(que)陷處的磁(ci)(ci)阻(zu)增(zeng)大(da)而產生漏磁(ci)(ci),形成局部(bu)磁(ci)(ci)場,磁(ci)(ci)粉便在(zai)(zai)此處顯(xian)示缺(que)陷的形狀和位置,從而判斷缺(que)陷的存(cun)(cun)在(zai)(zai)。
四、試述磁粉探傷的種類(lei)?
1、按(an)工件磁(ci)化方向的不同(tong),可分(fen)為周向磁(ci)化法(fa)(fa)、縱向磁(ci)化法(fa)(fa)、復合磁(ci)化法(fa)(fa)和旋轉磁(ci)化法(fa)(fa)。
2、按采(cai)用磁(ci)(ci)化電流的不同可分為(wei):直流磁(ci)(ci)化法、半波直流磁(ci)(ci)化法、和交流磁(ci)(ci)化法。
3、按探傷所采用磁粉的(de)配制不同(tong),可(ke)分為干粉法和濕粉法。
五、磁粉(fen)探傷的缺陷有哪些?
答:磁(ci)粉(fen)探傷設備簡單、操作(zuo)容(rong)易、檢(jian)驗迅速、具(ju)有(you)較高的(de)探傷靈(ling)敏度(du),可用來發(fa)現(xian)鐵磁(ci)材料鎳、鈷(gu)及其合(he)金(jin)、碳素鋼(gang)及某些合(he)金(jin)鋼(gang)的(de)表面或近(jin)表面的(de)缺陷(xian);它適于薄壁(bi)件或焊縫(feng)表面裂(lie)紋的(de)檢(jian)驗,也能(neng)顯(xian)露出一定深度(du)和(he)大(da)小(xiao)的(de)未焊透缺陷(xian);但難(nan)于發(fa)現(xian)氣孔、夾(jia)碴及隱(yin)藏在焊縫(feng)深處的(de)缺陷(xian)。
六、缺陷磁痕可分為幾類(lei)?
答:1、各(ge)種(zhong)工藝性(xing)質缺陷(xian)的磁痕;
2、材料夾渣帶來的(de)發(fa)紋磁痕(hen);
3、夾渣、氣孔帶來的點狀磁(ci)痕。
七、試(shi)述產生漏磁的原因?
答:由于鐵(tie)磁性材(cai)料(liao)的(de)(de)磁率遠大(da)于非鐵(tie)磁材(cai)料(liao)的(de)(de)導磁率,根(gen)(gen)(gen)據(ju)工(gong)件被(bei)磁化后的(de)(de)磁通(tong)密度B=μH來分析(xi),在(zai)工(gong)件的(de)(de)單(dan)(dan)位面積(ji)上穿過B根(gen)(gen)(gen)磁線(xian),而在(zai)缺陷(xian)區(qu)域的(de)(de)單(dan)(dan)位面積(ji) 上不能(neng)容許B根(gen)(gen)(gen)磁力線(xian)通(tong)過,就迫(po)使一部分磁力線(xian)擠到缺陷(xian)下(xia)面的(de)(de)材(cai)料(liao)里,其它磁力線(xian)不得不被(bei)迫(po)逸出工(gong)件表面以(yi)外(wai)出形成漏(lou)磁,磁粉將被(bei)這樣所引起(qi)的(de)(de)漏(lou)磁所吸引。
八、試述產(chan)生漏磁的影響因素?
答:1、缺陷(xian)的磁(ci)導率:缺陷(xian)的磁(ci)導率越小、則漏磁(ci)越強。
2、磁(ci)(ci)化(hua)磁(ci)(ci)場強度(磁(ci)(ci)化(hua)力(li))大小:磁(ci)(ci)化(hua)力(li)越大、漏(lou)磁(ci)(ci)越強。
3、被檢工件的形(xing)狀和尺寸、缺陷(xian)的形(xing)狀大(da)小、埋(mai)藏深度(du)等(deng):當其(qi)他條(tiao)件相同(tong)時,埋(mai)藏在表(biao)面下深度(du)相同(tong)的氣孔產(chan)(chan)生(sheng)的漏(lou)磁要比橫向裂紋所產(chan)(chan)生(sheng)的漏(lou)磁要小。
九、某些零件在磁(ci)粉探傷后(hou)為(wei)什么(me)要退磁(ci)?
答:某(mou)(mou)些(xie)轉動(dong)(dong)部件(jian)的剩(sheng)磁將會吸引鐵屑而使(shi)部件(jian)在轉動(dong)(dong)中(zhong)產生摩擦損壞,如軸(zhou)類軸(zhou)承等。某(mou)(mou)些(xie)零件(jian)的剩(sheng)磁將會使(shi)附近的儀表(biao)指(zhi)示(shi)失常。因(yin)此某(mou)(mou)些(xie)零件(jian)在磁粉(fen)探傷(shang)后(hou)為什(shen)么要退磁處理。
十、超(chao)聲波(bo)探傷(shang)的基本原(yuan)理(li)是什么?
答:超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探傷是利用超(chao)(chao)聲(sheng)能透入(ru)金屬材料(liao)的深(shen)處,并由(you)一截面(mian)(mian)(mian)進入(ru)另一截面(mian)(mian)(mian)時,在界面(mian)(mian)(mian)邊緣發(fa)生反(fan)射(she)的特(te)點來(lai)(lai)檢查零件(jian)(jian)缺陷(xian)的一種(zhong)方法,當(dang)超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)束自零件(jian)(jian)表面(mian)(mian)(mian)由(you)探頭通至金屬內部,遇到(dao)缺陷(xian)與零件(jian)(jian)底(di)面(mian)(mian)(mian)時就分別發(fa)生反(fan)射(she)波(bo)來(lai)(lai),在螢光(guang)屏上(shang)形成脈沖波(bo)形,根據(ju)這些脈沖波(bo)形來(lai)(lai)判(pan)斷缺陷(xian)位置(zhi)和大小(xiao)。
十一、超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優的缺點?
答(da):超聲波探(tan)(tan)傷比X射線(xian)探(tan)(tan)傷具有(you)較高的探(tan)(tan)傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高,對(dui)人(ren)體無(wu)害(hai)等優(you)點;缺點是對(dui)工作表面要(yao)求平(ping)滑、要(yao)求富有(you)經驗的檢驗人(ren)員才能(neng)辨別缺陷(xian)種(zhong)類、對(dui)缺陷(xian)沒(mei)有(you)直觀(guan)性;超聲波探(tan)(tan)傷適(shi)合于(yu)厚度較大的零件檢驗。
十二、超聲波探傷的主要(yao)特(te)性有哪些?
答:1、超(chao)聲(sheng)波在(zai)介質中傳播(bo)時,在(zai)不(bu)同質界面上具有(you)反(fan)射(she)的(de)特(te)性,如(ru)遇到缺陷(xian),缺陷(xian)的(de)尺(chi)寸等(deng)于(yu)或大于(yu)超(chao)聲(sheng)波波長時,則超(chao)聲(sheng)波在(zai)缺陷(xian)上反(fan)射(she)回來,探傷儀可將反(fan)射(she)波顯示出(chu)來;如(ru)缺陷(xian)的(de)尺(chi)寸甚(shen)至小(xiao)于(yu)波長時,聲(sheng)波將繞過射(she)線(xian)而不(bu)能反(fan)射(she);
2、波聲的方向(xiang)性(xing)(xing)好(hao),頻率越(yue)高,方向(xiang)性(xing)(xing)越(yue)好(hao),以(yi)很窄的波束向(xiang)介質中輻射,易于確(que)定缺陷的位置。
3、超聲波(bo)的傳(chuan)播(bo)能量大,如頻(pin)率為1MHZ(100赫茲)的超生波(bo)所傳(chuan)播(bo)的能量,相(xiang)當(dang)于振(zhen)幅相(xiang)同而頻(pin)率為1000HZ(赫茲)的聲波(bo)的100萬倍。
十三、超生(sheng)波(bo)探傷板厚14毫米時,距離波(bo)幅(fu)曲(qu)線上三條主要曲(qu)線的(de)關系怎樣(yang)?
答:測長(chang)線Ф1 х6 -12dB
定(ding)量線(xian)Ф1 х6 -6dB
判度線Ф1 х6 -2dB
十四、何為射線(xian)的(de)“軟”與“硬(ying)”?
答:X射線穿(chuan)透物質的能(neng)力(li)大(da)小和射線本(ben)身的波(bo)長(chang)有關,波(bo)長(chang)越(yue)(yue)短(管(guan)電壓越(yue)(yue)高),其穿(chuan)透能(neng)力(li)越(yue)(yue)大(da),稱之為“硬(ying)”;反之則稱為“軟”。
十(shi)五、用超生波探傷(shang)時,底(di)波消(xiao)失(shi)可能是什么原因造成的?
答:1、近(jin)表表大缺(que)陷(xian);2、吸(xi)收性缺(que)陷(xian);3、傾斜大缺(que)陷(xian);4、氧化皮與鋼(gang)板(ban)結合(he)不好。
十六、影響顯(xian)影的主要因素有(you)哪些?
答:1、顯影時間;2、顯影液(ye)溫度;3、顯影液(ye)的(de)搖動;4、配方類型;5、老(lao)化程度。
十七、什么是電流?
答:電流是(shi)指(zhi)電子在一(yi)定方(fang)向的外力(li)作用下有規(gui)(gui)則的運動;電流方(fang)向,習(xi)慣上規(gui)(gui)定是(shi)由電源(yuan)的正極經用電設(she)備流向負極為正方(fang)向,即與電子的方(fang)向相反。
十八、什么(me)是(shi)電流強度(du)?
答:電(dian)(dian)流(liu)強(qiang)度是單(dan)位(wei)時(shi)間(jian)內通過導體橫截面的(de)電(dian)(dian)量,電(dian)(dian)流(liu)有時(shi)也(ye)作(zuo)為電(dian)(dian)流(liu)強(qiang)度的(de)簡稱,可(ke)寫成I =Q \T 式(shi)中(zhong)I 表示(shi)為電(dian)(dian)流(liu)強(qiang)度Q 為電(dian)(dian)量,T 為時(shi)間(jian) 。
十九、什么是電阻?
答:指(zhi)電流(liu)在導體內(nei)流(liu)動所受到的(de)(de)阻力,在相(xiang)同(tong)的(de)(de)溫度下,長(chang)度和(he)截面積都相(xiang)同(tong)的(de)(de)不(bu)同(tong)物質(zhi)的(de)(de)電阻,差別往往很大;電阻用“R”表示,單(dan)位為歐姆,簡稱歐,以(yi)Ω表示。
二十、什么是電壓?
答:指在電(dian)源力的作用下,將(jiang)導體(ti)內部的正負電(dian)荷推移到導體(ti)的兩端(duan),使其具(ju)有電(dian)位(wei)差(cha),電(dian)壓(ya)的單位(wei)是伏特,簡稱伏,用符號“V”表示。
二十一、什么是(shi)交流電,有何(he)特(te)點?
答(da):交(jiao)流(liu)電指電路中電流(liu)、電壓(ya)(ya)、電勢(shi)的(de)大(da)小和方向不是恒定的(de),而是交(jiao)變的(de),其(qi)特點是電流(liu)、電壓(ya)(ya)、電勢(shi)的(de)大(da)小和方向都(dou)是隨時間作(zuo)作(zuo)周(zhou)期性的(de)變化;工礦(kuang)企(qi)業設備(bei)所用的(de)交(jiao)流(liu)電動機、民用照明、日常生活的(de)電器(qi)設備(bei)都(dou)是以交(jiao)流(liu)電作(zuo)為電源;交(jiao)流(liu)電有三(san)相和單相之(zhi)分,其(qi)電壓(ya)(ya)380伏(fu)和220伏(fu)。
二十二、什么是直流(liu)電,有何特點?
答:指在任(ren)何不同(tong)時刻(ke),單位時間內通過(guo)導體橫(heng)截面的(de)(de)電(dian)荷均相(xiang)等,方向(xiang)始終(zhong)不變的(de)(de)電(dian)流(liu)(liu);其特點是電(dian)路中(zhong)的(de)(de)電(dian)流(liu)(liu)、電(dian)壓、電(dian)勢的(de)(de)大小和(he)方向(xiang)都(dou)是不隨時間變化(hua)而變化(hua),而是恒定(ding)的(de)(de);直流(liu)(liu)電(dian)機(ji)、電(dian)鍍、電(dian)機(ji)勵磁、蓄電(dian)池充電(dian)、半導體電(dian)路等。
二十(shi)三、什么是(shi)歐(ou)姆定律(lv)?
答:歐(ou)姆定律(lv)反映了有穩恒電(dian)流通過的(de)電(dian)路(lu)中電(dian)阻、電(dian)壓(ya)和(he)電(dian)流相(xiang)互(hu)關系(xi);歐(ou)姆定律(lv)指出(chu),通過電(dian)路(lu)中的(de)電(dian)流與電(dian)路(lu)兩端電(dian)壓(ya)成正(zheng)比,與電(dian)路(lu)中的(de)電(dian)阻成反比;即I =V \R。
二十四、什(shen)么是電磁感應?
答:通過閉合回路的(de)磁(ci)通量發生(sheng)變化,而在回路中產(chan)生(sheng)電(dian)(dian)動勢(shi)的(de)現(xian)象稱為(wei)(wei)電(dian)(dian)磁(ci)感(gan)(gan)應;這樣產(chan)生(sheng)電(dian)(dian)動勢(shi)稱為(wei)(wei)感(gan)(gan)應電(dian)(dian)動勢(shi),如(ru)果導(dao)體是個閉合回路,將有電(dian)(dian)流流過,其電(dian)(dian)流稱為(wei)(wei)感(gan)(gan)生(sheng)電(dian)(dian)流;變壓器,發電(dian)(dian)機、各種電(dian)(dian)感(gan)(gan)線(xian)圈都是根(gen)據(ju)電(dian)(dian)磁(ci)感(gan)(gan)應原理工作。
二(er)十五、簡(jian)述(shu)超生(sheng)(sheng)波(bo)探傷(shang)中,超生(sheng)(sheng)波(bo)在介質中傳(chuan)播(bo)時引起衰減的(de)原(yuan)因是什么(me)?
答:1、超聲波的擴散傳播(bo)距(ju)離增(zeng)加,波束(shu)截(jie)面(mian)愈來愈大(da),單位面(mian)積上的能量減少。
2、材(cai)質衰減一是介(jie)質粘滯(zhi)性引(yin)起(qi)的(de)吸收(shou);二是介(jie)質界面雜亂反射引(yin)起(qi)的(de)散射。
二十六(liu)、CSK-ⅡA試塊的主要作(zuo)用(yong)是(shi)什么?
答(da):1、校驗靈敏度;2、校準掃描線性。
二十七、影響照(zhao)相靈敏度的主(zhu)要因素(su)有哪些(xie)?
答:1、X光機的(de)焦點大(da)小(xiao);2、透照(zhao)參數(shu)(shu)選擇的(de)合理性(xing),主要(yao)參數(shu)(shu)有(you)管電壓、管電流、曝光時間和焦距大(da)小(xiao);3、增感方式;4、選用(yong)膠片的(de)合理性(xing);5、暗(an)室處理條(tiao)件;6、散射的(de)遮擋等(deng)。
二十八(ba)、用超生波(bo)對餅形大鍛(duan)件探傷,如果用底(di)波(bo)調節探傷起始靈敏度對工作底(di)面有何(he)要求?
答:1、底面(mian)必須平行于探傷(shang)面(mian);
2、底面必須平整并且有一定的光潔度。
二十九、超聲波探(tan)傷選擇探(tan)頭K值有哪三條原(yuan)則?
答:1、聲束(shu)掃查到整(zheng)個焊縫截面;
2、聲束(shu)盡量垂(chui)直于主要缺陷(xian);
3、有足夠的靈敏度。
三十、超聲波(bo)探傷(shang)儀主(zhu)要有哪幾部分組成?
答:主要(yao)有電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)(lu)同步(bu)電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)(lu)、發(fa)電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)(lu)、接收電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)(lu)、水平掃描電(dian)(dian)路(lu)(lu)(lu)(lu)、顯示器和電(dian)(dian)源等部份組成。
三十一、發射電(dian)路的主要作(zuo)用是什么?
答:由同步電(dian)路(lu)(lu)輸入(ru)的同步脈沖(chong)信(xin)號,觸發(fa)發(fa)射電(dian)路(lu)(lu)工(gong)作,產(chan)生(sheng)(sheng)高(gao)頻(pin)電(dian)脈沖(chong)信(xin)號激勵(li)晶(jing)片,產(chan)生(sheng)(sheng)高(gao)頻(pin)振動,并(bing)在介質內(nei)產(chan)生(sheng)(sheng)超聲波。
三十二、超聲波探傷中,晶片(pian)表面(mian)和被探工件表面(mian)之間使用耦合劑的原因(yin)是(shi)什么?
答:晶(jing)片(pian)表面和(he)被(bei)檢工件表面之間的空氣間隙,會(hui)使(shi)超聲(sheng)波完全(quan)反射,造成探(tan)傷(shang)結(jie)果不準確和(he)無法探(tan)傷(shang)。
三十三、JB1150-73標準中規定的判別缺陷(xian)的三種情況是什么?
答(da):1、無(wu)底波只(zhi)有缺陷的多次(ci)反射波。
2、無底波(bo)只有多個紊(wen)亂的缺陷(xian)波(bo)。
3、缺陷波和底波同時(shi)存在。
三十四(si)、JB1150-73標準中規(gui)定的距離――波幅曲線的用途是什么?
答:距離――波幅曲線主要(yao)用于判定(ding)缺陷大小(xiao),給驗收標準提供依據(ju)它是由判廢(fei)線、定(ding)量線、測長線三條曲線組成;
判廢線(xian)――判定缺陷(xian)的蕞大允許當量;
定(ding)量(liang)線(xian)――判定(ding)缺(que)陷的大(da)小、長(chang)度的控制線(xian);測長(chang)線(xian)――探傷起始靈敏度控制線(xian)。
三(san)十五、什么是(shi)超聲場?
答(da):充滿超(chao)聲場能量的(de)空間叫超(chao)聲場。
三十六、反(fan)映超(chao)聲場(chang)特征的主要參(can)數是(shi)什么?
答(da):反(fan)映超聲場特征的重(zhong)要(yao)物理量有(you)聲強、聲壓聲阻抗、聲束擴散角、近場和遠場區。
三十七、探傷儀(yi)蕞重(zhong)要的性(xing)能指(zhi)標是什么?
答:分辨力(li)、動態范圍(wei)、水平(ping)線性、垂直(zhi)線性、靈敏度、信噪比。
三十八、超聲波探傷儀(yi)近顯示(shi)方式可(ke)分幾種?
答:1、A型顯(xian)示(shi)示(shi)波屏橫座(zuo)(zuo)標代(dai)(dai)表(biao)超聲波傳(chuan)遞播(bo)時(shi)間(jian)(或距(ju)離(li))縱座(zuo)(zuo)標代(dai)(dai)表(biao)反射回波的(de)(de)高度;2、B型顯(xian)示(shi)示(shi)波屏橫座(zuo)(zuo)標代(dai)(dai)表(biao)超聲波傳(chuan)遞播(bo)時(shi)間(jian)(或距(ju)離(li)),這類顯(xian)示(shi)得到的(de)(de)是探頭掃查深度方向(xiang)的(de)(de)斷面圖;3、C型顯(xian)示(shi)儀器示(shi)波屏代(dai)(dai)表(biao)被檢工件的(de)(de)投(tou)(tou)影(ying)面,這種顯(xian)示(shi)能繪出缺陷的(de)(de)水平投(tou)(tou)影(ying)位置,但不能給出缺陷的(de)(de)埋藏深度。
三十九、超聲波探頭的主要(yao)作用是什(shen)么?
答:1、探頭是一個電(dian)聲(sheng)換(huan)(huan)能器,并能將返回來(lai)的(de)(de)(de)聲(sheng)波轉(zhuan)換(huan)(huan)成電(dian)脈沖;2、控制超聲(sheng)波的(de)(de)(de)傳播方向(xiang)和能量(liang)集中的(de)(de)(de)程度(du),當改變(bian)探 頭入射 角(jiao)或改變(bian)超聲(sheng)波的(de)(de)(de)擴散角(jiao)時,可使聲(sheng)波的(de)(de)(de)主(zhu)要能量(liang)按不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)角(jiao)度(du)射入介質內部(bu)或改變(bian)聲(sheng)波的(de)(de)(de)指向(xiang)性,提高(gao)分辨(bian)率(lv);3、實現波型(xing)轉(zhuan)換(huan)(huan);4、控制工作(zuo)頻率(lv);適用于(yu)不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)工作(zuo)條(tiao)件。
四十、磁粉探頭的安全操作要(yao)求?
答(da):1、當工件直(zhi)接(jie)通(tong)過電磁化(hua)(hua)時(shi)(shi),要注意(yi)夾頭(tou)間的(de)接(jie)觸不良、或用(yong)了太大的(de)磁化(hua)(hua)電流引起(qi)打弧閃光(guang),應(ying)戴防護(hu)(hu)眼鏡(jing),同時(shi)(shi)不應(ying)在(zai)有可(ke)能燃(ran)氣體的(de)場合使用(yong);2、在(zai)連續(xu)使用(yong)濕法磁懸液時(shi)(shi),皮膚上(shang)可(ke)涂防護(hu)(hu)膏;3、如用(yong)于水(shui)磁懸液,設備(bei) 須接(jie)地良好,以防觸電;4、在(zai)用(yong)繭火磁粉時(shi)(shi),所(suo)用(yong)紫外線必須經濾光(guang)器,以保護(hu)(hu)眼睛和皮膚。
四十(shi)一、什么是分辨率?
答:指(zhi)在射線(xian)底片或熒光屏上(shang)能夠識別的圖(tu)像之間(jian)蕞小距離,通常(chang)用每1毫米內可辨(bian)認線(xian)條的數(shu)目表示。
四十二、什么(me)是幾何不清晰度?
答(da):由半影造成的不清晰度(du)、半影取決(jue)于焦點(dian)尺寸,焦距和工件厚(hou)度(du)。
四十三(san)、為(wei)什么要加強(qiang)超(chao)波探(tan)傷合錄和(he)報告工作?
答:任何工件經過超(chao)聲波探(tan)傷后,都必須出據檢(jian)驗報(bao)告以作(zuo)為該工作(zuo)質量好壞的(de)(de)憑證,一份正確的(de)(de)探(tan)傷報(bao)告,除建(jian)立可靠(kao)的(de)(de)探(tan)測方法和結(jie)果外,很大(da)程度上取決于(yu)原始記錄和蕞(zui)后出據的(de)(de)探(tan)傷報(bao)告是非常重要的(de)(de),如果我們檢(jian)查了工件不(bu)作(zuo)記錄也不(bu)出報(bao)告,那么探(tan)傷檢(jian)查就毫無意義。
四十(shi)四、磁粉探(tan)傷(shang)中為(wei)什么要(yao)使用(yong)靈敏試片?
答:使(shi)用靈敏(min)試(shi)片(pian)目的在于(yu)檢驗磁(ci)粉(fen)和磁(ci)懸液的性能(neng)和連續法中(zhong)確(que)定試(shi)件表面有效磁(ci)場(chang)強度和方(fang)向以(yi)及操作(zuo)方(fang)法是否正確(que)等綜(zong)合因(yin)素。
四十五、什么叫定影作用?
答:顯影后的膠片在(zai)影液中,分影劑將它上面未(wei)經顯影的溴(xiu)化銀溶解(jie)掉,同時保護(hu)住黑(hei)色金屬銀粒(li)的過程叫定影作用(yong)。
四十(shi)六、著(zhu)色(滲透)探傷的基本(ben)原(yuan)理是什(shen)么?
答:著色(滲(shen)透)探傷的(de)(de)基本原理是利(li)用(yong)毛(mao)細(xi)現象使滲(shen)透液(ye)滲(shen)入缺(que)陷,經(jing)清洗使表(biao)面滲(shen)透液(ye)支除,而(er)缺(que)陷中的(de)(de)滲(shen)透殘瘤,再利(li)用(yong)顯(xian)像劑(ji)的(de)(de)毛(mao)細(xi)管作(zuo)用(yong)吸附出缺(que)陷中殘瘤滲(shen)透液(ye)而(er)達到檢驗缺(que)陷的(de)(de)目的(de)(de)。
四十七、著色(滲透(tou))探傷靈敏度的(de)主要因(yin)素(su)有哪些?
答:1、滲(shen)透劑(ji)的(de)性能的(de)影(ying)響;2、乳化劑(ji)的(de)乳化效(xiao)果的(de)影(ying)響;3、顯像劑(ji)性能的(de)影(ying)響;4、操作方法的(de)影(ying)響;5、缺陷本身性質的(de)影(ying)響。
四十八、在超聲波探傷中(zhong)把焊縫中(zhong)的缺(que)陷分幾類(lei)?怎樣(yang)進行分類(lei)?
答:在焊縫超(chao)聲波探傷中(zhong)一般把焊縫中(zhong)的缺(que)陷 分(fen)成三類:點狀缺(que)陷、線狀缺(que)陷、面狀缺(que)陷。
在(zai)分類中把(ba)長(chang)度(du)(du)小(xiao)于10mm的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)叫(jiao)做(zuo)點狀(zhuang)缺(que)(que)(que)陷(xian);一般(ban)不測長(chang),小(xiao)于10mm的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)按5mm計。把(ba)長(chang)度(du)(du)大(da)(da)于10mm的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)叫(jiao)線狀(zhuang)缺(que)(que)(que)陷(xian)。把(ba)長(chang)度(du)(du)大(da)(da)于10mm高度(du)(du)大(da)(da)于3mm的(de)缺(que)(que)(que)陷(xian)叫(jiao)面狀(zhuang)缺(que)(que)(que)陷(xian)。
四十九、膠(jiao)片(pian)洗沖(chong)程序如何?
答:顯影、停(ting)影、定影、水洗、干(gan)燥(zao)。
五十、什么(me)叫導電性?
答:指(zhi)金屬能夠傳導電流的性質。
五(wu)十一、什么叫(jiao)磁(ci)性?
答(da):指金(jin)屬具(ju)有導磁(ci)的(de)性(xing)能;從實用意義講如:可用磁(ci)性(xing)材料(金(jin)屬)制造永久磁(ci)鐵、電工材料,也可用磁(ci)性(xing)來檢查磁(ci)性(xing)金(jin)屬是(shi)否(fou)有裂紋等(deng)
五十(shi)二、什(shen)么叫高(gao)壓?
答:設備(bei)對地電壓(ya)在250伏以上(shang)者稱為高壓(ya)。
五十(shi)三、什么叫(jiao)低壓?
答(da):設備對地電壓在250伏以下者稱為低壓。
五十四、什么叫(jiao)安全(quan)電壓?
答:人(ren)身觸及(ji)帶(dai)電導(dao)體時,無(wu)生命危(wei)險的電壓(ya)(ya)(ya),一般(ban)都采用36伏以下的電壓(ya)(ya)(ya)稱為(wei)安全電壓(ya)(ya)(ya)。
凡工作場所潮濕或在金(jin)屬容器(qi)內,隧(sui)道、礦井內用(yong)電(dian)器(qi)照明等,均采(cai)用(yong)12伏安全電(dian)壓(ya)。
五(wu)十(shi)五(wu)、超聲(sheng)波(bo)試(shi)塊的作用(yong)是什么(me)?
答:超聲波試塊的(de)作用是(shi)校(xiao)驗儀器和(he)探頭(tou)的(de)性(xing)能,確定探傷起始(shi)靈敏度,校(xiao)準掃描線性(xing)。
五十(shi)六、什(shen)么是斜探頭(tou)折射角β的正確(que)值?
答:斜(xie)探頭折射(she)角的正確值稱為K值,它等于斜(xie)探頭λ射(she)點至反(fan)射(she)點的水平距離(li)和相應(ying)深度的比(bi)值。
五(wu)十七、當局部無損(sun)探傷檢(jian)查(cha)的(de)焊縫(feng)中發現有不允許的(de)缺陷時如(ru)何(he)辦?
答:應在缺陷的延長方向或(huo)可疑(yi)部位作(zuo)補(bu)充射線探(tan)傷。補(bu)充檢查后對焊(han)縫質(zhi)量仍然有(you)懷疑(yi)對該(gai)焊(han)縫應全部探(tan)傷。
五十八、非缺陷引起的磁痕有幾種?
答(da):1、局部(bu)冷 作(zuo)硬化,由(you)(you)材料導磁(ci)(ci)變化造成(cheng)的磁(ci)(ci)痕(hen)(hen)(hen)聚集;2、兩種不(bu)同材料的交界面(mian)處(chu)磁(ci)(ci)粉堆積;3、碳化物(wu)層(ceng)組織偏析;4、零件截面(mian)尺寸(cun)的突變處(chu)磁(ci)(ci)痕(hen)(hen)(hen);5、磁(ci)(ci)化電流過高(gao),因金屬流線(xian)造成(cheng)的磁(ci)(ci)痕(hen)(hen)(hen);6、由(you)(you)于工件表(biao)面(mian)不(bu)清潔或油污造成(cheng)的斑點狀磁(ci)(ci)痕(hen)(hen)(hen)。
五十九(jiu)、磁(ci)粉檢驗規程包(bao)括哪些內(nei)容?
答:1、規(gui)程的(de)適用范(fan)圍;2、磁化方法(包(bao)括磁化規(gui)范(fan)、工件(jian)表面的(de)準(zhun)備);3、磁粉(包(bao)括粒度、顏色(se)、磁懸液(ye)(ye)與(yu)熒光磁懸液(ye)(ye)的(de)配制)。4、試片;5、技(ji)術操作;6、質量評定與(yu)檢驗記錄。
六十、磁粉(fen)探(tan)傷適用范圍?
答:磁粉探傷(shang)是用(yong)來檢測(ce)鐵(tie)磁性材(cai)料表面和近表面缺陷的種檢測(ce)方法(fa)。
六十一(yi)、超(chao)聲(sheng)波探傷儀(yi)中同步信(xin)號發生器的主(zhu)要作用是什(shen)么?它(ta)主(zhu)要控(kong)制(zhi)哪(na)二部(bu)分電(dian)路工(gong)作?
答:同(tong)步(bu)(bu)電(dian)(dian)路產生同(tong)步(bu)(bu)脈(mo)沖(chong)信號,用以觸發儀(yi)器各部分電(dian)(dian)路同(tong)時協調(diao)工(gong)作,它主(zhu)要控(kong)制(zhi)同(tong)步(bu)(bu)發射和同(tong)步(bu)(bu)掃描二部分電(dian)(dian)路。
六十二(er)、無損檢(jian)測(ce)的目地?
答:1、改(gai)進制造(zao)工藝;2、降低制造(zao)成本;3、提高產品的可能性;4、保證設備的安全運行。
六十三、超聲(sheng)波焊縫探傷時(shi)(shi)為(wei)缺陷定位儀器時(shi)(shi)間掃描線的調(diao)整(zheng)有哪幾(ji)種方(fang)法?
答:有水平定(ding)(ding)(ding)位(wei)儀、垂直定(ding)(ding)(ding)位(wei)、聲程定(ding)(ding)(ding)位(wei)三種方法。
六十四、試比較干粉法與濕粉法檢驗的主(zhu)要優缺點(dian)?
答(da):干(gan)粉法檢驗對(dui)近表面缺陷的(de)(de)檢出能(neng)力(li)高,特別適于大面積(ji)或野(ye)外探傷;濕粉法檢驗對(dui)表面細小(xiao)缺陷檢出能(neng)力(li)高,特別適于不規則形(xing)狀的(de)(de)小(xiao)型(xing)零件的(de)(de)批量探傷。
免責聲明(ming):部分信息(xi)來(lai)源于網絡,如有侵權,請(qing)與我們聯系(xi)刪除。